Персоналии

Рассмотрены проблемы анализа надежности цифровых КМОП СБИС, возникающие при переходе на производство СБИС с нанометровыми проектными нормами. Проанализированы методы моделирования одного из основных эффектов деградации параметров ИС – температурной нестабильности при отрицательном смещении (NВТI-эффект). Предложена модель деградации порогового напряжения р-МОП-транзистора с учетом влияния NВТI-эффекта, а также алгоритм распространения вероятности сигнала по схеме для повышения точности при оценке деградации. На основе полученной модели проведена оценка изменения временных параметров стандартных цифровых элементов. Разработан маршрут статического временного анализа с учетом чувствительностей временных параметров к указанным изменениям пороговых напряжений транзисторов.

• Просмотров: 490 | Комментариев : 0

Рассмотрены проблемы логического и временного анализа, возникающие на этапе характеризации сложных заказных блоков КМОП СБИС. Предложена обобщенная логико-временная модель функционального блока, объединяющая в себе как логическую функцию на основе SP-DAG-гpaфa, так и иерархическую структуру схемы, раскрытую до транзисторного уровня. Предложен модифицированный метод исключения Гаусса для экстракции обобщенной модели блока из транзисторного описания схемы. На основе полученной модели схемы проведены оценка nроводимостей и емкостей, а также анализ задержек. Разработан алгоритм на основе метода ветвей и границ, позволяющий анализировать задержки для большого числа различных комбинаций входных воздействий, не применяя полного моделирования.

• Просмотров: 389 | Комментариев : 0