доктор технических наук, доцент, заведующая кафедрой информационно-измерительной техники и метрологии Пензенского государственного университета (Россия, 440026, г. Пенза, ул. Красная, 40)
Одна из основных проблем процесса микродугового оксидирования заключается в его плохой управляемости, обусловленной отсутствием системного формализованного описания зависимостей свойств оксидных покрытий от широкого спектра разнородных факторов. В работе на основе методологии управления качеством и системного анализа систематизирована взаимосвязь между технологическими параметрами процесса микродугового оксидирования и свойствами формируемых покрытий. Предложена структура автоматизированной системы для управляемого синтеза оксидных покрытий. Показано, что отличительной особенностью и преимуществом данной системы является возможность задания и контроля параметров технологического процесса, а также параметров покрытий. Автоматизация процесса микродугового оксидирования реализуется посредством предлагаемых интеллектуальных приложений поддержки исследований параметров оксидных покрытий, которые включают в себя методики и алгоритмы измерения параметров. Полученные результаты позволяют сократить время, затрачиваемое на отработку технологии, оптимизировать технологический процесс синтеза оксидных покрытий.
Предложен автоматизированный метод эмпирико-теоретического моделирования температурных зависимостей диэлектрических параметров сегнетоэлектриков, основанный на законе Кюри - Вейса. Проведен метрологический анализ канала измерения температуры информационно-измерительной системы для исследования сегнетоэлектриков, что способствует повышению точности измерений и моделирования.