Предложен автоматизированный метод эмпирико-теоретического моделирования температурных зависимостей диэлектрических параметров сегнетоэлектриков, основанный на законе Кюри - Вейса. Проведен метрологический анализ канала измерения температуры информационно-измерительной системы для исследования сегнетоэлектриков, что способствует повышению точности измерений и моделирования.