доктор технических наук, профессор, главный научный сотрудник Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук (Россия, 124365, г. Москва, г. Зеленоград, ул. Советская, 3)
Для отладки проектов цифровых микроэлектронных систем необходимо формирование некоторого набора тестовых воздействий на моделируемую систему с целью проверки правильности ее функционирования. Для большого количества цифровых систем характерно выполнение последовательности функций из конечного алфавита. В работе определена частичная полугруппа на множестве допустимых последовательностей функций. Допустимые последовательности формализованы путем введения графа функций, задающего возможные для выполнения функции для различных состояний цифровой системы. Граф функций совместно с множествами входных взаимодействий для каждой функции задают спецификацию внешнего поведения цифровой системы Установлено, что если допустимость последовательного выполнения двух функций зависит от выполненных ранее функций и состояния цифровой системы, то некоторые функции должны быть разделены на подфункции. Показано, что набор отладочных тестов должен включать в себя как проверку выполнения последовательностей функций, так и правильность выполнения каждой функции с различными наборами параметров