Метод исследования гальваномагнитных свойств CdHgTe и CdHgTe/CdZnTe

Раздел находится в стадии актуализации

На монокристаллических объемных образцах Cd  Hg Te (КРТ) и эпитаксиальных гетероструктурах Cd  Hg Te/CdZn  Te (КРТ/КЦТ) ( х » 0,2) проведены гальваномагнитные измерения по методу Ван-дер-Пау при температуре 295 и 77 К. Образец вместе с криостатом вращался в поле электромагнита на угол от 0 до 360° с шагом 6°. Показано, что для объемного образца КРТ p -типа при температуре 77 К угловые зависимости измеряемого напряжения представляют собой синусоиды, т.е. коэффициент Холла не зависит от индукции магнитного поля. Однако для эпитаксиальных гетероструктур КРТ/КЦТ при температуре 77 К угловые зависимости измеряемого сигнала заметно отличаются от синусоидальных.
Голубятников Вадим Александрович
Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»
Лысенко Александр Павлович
Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», г. Москва, Россия
Белов Александр Георгиевич
АО «Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет», г. Москва, Россия
Каневский Владимир Евгеньевич
АО «Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет», г. Москва, Россия

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru