Анализ и моделирование кремниевых вертикальных комплементарных биполярных транзисторов

Раздел находится в стадии актуализации

Проанализированы особенности современных комплементарных биполярных технологий ( СВ -технологий) для аналоговых применений. Рассмотрены основные тенденции их развития. На основе двух параметров качества комплементарности - добротности (β× V ) и параметра Джонсона ( BV × f ) - проведено сравнение различных индустриальных CB -технологий. Методом двумерного численного моделирования в среде TCAD Sentaurus для вертикальных n - p - n - и p - n - p -транзисторов исследована р -эпитаксиально-планарная CB -технология. Тщательная калибровка параметров технологических и электрофизических 2D-моделей на основе тестовых структур показала достаточную для практики точность использованной методики.
Храпов Михаил Олегович
Новосибирский государственный технический университет, г. Новосибирск, Россия
Гридчин Виктор Алексеевич
Новосибирский государственный технический университет, г. Новосибирск, Россия
Калинин Сергей Васильевич
Новосибирский государственный технический университет, г. Новосибирск, Россия

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru