Отмечены преимущества от реализации электронографических исследований текстур (ЭИТ) в рамках электронно-микроскопических исследованиях (ЭМИ), превращающие его, по сути, в новый метод с уникальными: локальностью, информативностью и разрешением. Он отличается прецизионным контролем осей проекций, позволяет объединить в одном эксперименте и для одного и того же объема электронографические и электронно-микроскопические исследования, выбирать исследуемые объемы не только на основе особенностей ЭМИ картин, но также на основе ЭИТ и т. д. Указано, что экспериментатор, опираясь на описанные закономерности и предложенные методики, может сам развивать варианты исследований, отвечающие исследуемому объекту и собственным навыкам.
- Просмотров: 296 | Комментариев : 0