При электронно-микроскопических исследованиях (ЭМИ) текстурированных агрегатов из наноразмерных кристаллитов не существует ограничений на электронографические исследования текстур (ЭИТ) в колонне микроскопа, которые возникают для крупнокристаллических объектов. Описаны физические закономерности ЭИТ. Подчеркнуты преимущества от реализации ЭИТ в рамках ЭМИ.
1. Detavernier C., Lavoie C. Edge-to-edge matching in thin films // Metallurgical and Materials Transactions A. - 2006. - Vol. 37. - p. 851-855.
2. Growth of II-IV-V2 Chalcopyrite Nitrides by Molecular Beam Epitaxy / J.E.Van Nostrand, J.D.Albrecht, R.Cortez, et al. // J. of Electronic Materials. - 2005. - Vol. 34, N 10. - p. 1349-1356.
3. Leoni M., Tosi C., Scardi P. Co,Ni-base alloy thin films deposited by r.f. magnetron sputtering in Ar/N2 atmosphere // J. of Materials Science. - 2005. - Vol. 40, N 7. - p. 1685-1691.
4. Orientation-enhanced growth and optical properties of ZnO nanowires grown on porous silicon substrates / Hsu-Cheng Hsu, Ching-Sheng Cheng, Chia-Chieh et al. // Nanotechnology. - 2005. - Vol. 16, N 2. - p. 297-301.
5. Carvalho N.J.M., Zoestbergen E., Kooi B.J., De Hosson J.T.M. Stress analysis and microstructure of PVD monolayer TiN and multilayer TiN/(Ti,Al)N coatings // Thin Solid Films. - 2003. - Vol. 429, N 1. - p. 179-189.
6. Cavalcanti W., Santos M., Figueiredo W. Random deposition model of particles with discrete orientations // Physica A. - 2003. - Vol. 322. - p. 467-476.
7. Leoni M., Di Maggio R., Polizzi S., Scardi P. X-ray diffraction methodology for the microstructural analysis of nanocrystalline powders: application to cerium oxide // J. of the American Ceramic Society. - 2004. - Vol. 87, N 6. - p. 1133-1140.
8. Suh J.O., Tu K.N., Tamura N.A. Synchrotron radiation X-ray microdiffraction study on orientation relationships between a Cu6Sn5 and Cu substrate in solder joints // JOM. - 2006. - Vol. 58, N 6. - p. 63-66.
9. Пинскер З.Г. Дифракция электронов. - М.: Изд-во АН СССР, 1949. - 429 с.
10. Вайнштейн Б.К. Структурная электронография. - Изд-во АН СССР, 1956. - 314 с.
11. Vainshtein B.K., Zvyagin B.B., Avilov A.S. Electron diffraction structure analysis. In electron diffraction techniques / Ed. Cowley M.J. - Oxford University Press, 1992. - P. 216-312.
12. Nickolsky M.S., Zhuklistov A.P., Oleynikov P.N. OTED patterns and Image Plate application // Moscow Summer School on Electron Crystallography. - Moscow: IC RAS, 2003. - P. 131-138.
13. Klechkovskaya V.V. Electron diffraction by thin organic films // Moscow Summer School on Electron Crystallography. - Moscow: IC RAN, 2003. - P. 151-154.
14. Хирш П., Хови А., Николсон Р. Пэшли Д. Уэлан М. Электронная микроскопия тонких кристаллов. - М.: Мир, 1968. - 574 с. (Hirsch P.B., Howie A., Nicholson R.B., Pashley D.B., Whelan M.J. Electron Microscopy of Thin Crystals. - London: Butterworths, 1965).
15. Reimer L. Transmission Electron Microscopy. Physics of Image Formation and Microanalysis. - 4th-ed. - Berlin: Spinger, 1997. - 584 p.
16. Edington J.W. Monographs in practical electron microscopy in materials science. - P.2. Electron diffraction in electron microscope // Philips Technical Library, 1989. - 122 p.
17. Fultz B., Howe J. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. - 2nd-ed. - Berlin: Springer, 2002. - 748 p.
18. Misra R.D.K., Kale A., Kooi B.J., de Hosson J.T.M. Some aspects of nanocrystalline nickel and zinc ferrites processed using microemulsion technique // Materials Science and Technology. - 2003. - Vol. 19, N 11. - p. 1617-1621.
19. De Pauw V., Reznik B., Kalhober S., Lu Z.J., Huttinger K.J. Texture and nanostructure of pyrocarbon layers deposited on planar surface in hall-wall reactor // Carbon. - 2003. - Vol. 41. - P. 71-77.
20. Reznik B., Gerthsen D., Zang W., Huttinger K.J. Texture changes in the matrix of an anfilterated carbon fiber be polarized light microscopy and selected area electron diffraction // Carbon. - 2003. - Vol. 41. - P. 368-384.
21. Tse Y., Duggan B. Orientation imaging microscopy studies of recrystallization in interstitial-free steel // Metallurgical and Materials Transactions A. - 2006. -Vol. 37, N 3. - p. 1055-1064.
22. Paul H., Morawiec A., Bouzy Em., Fundenberger J.-J., Piatkowski A. Orientation Imaging in Scanning Electron and Transmission Electron Microscopy for Characterization of the Shear Banding Phenomenon // Microchimica Acta. - 2006. - Vol. 155, N 1-2. - p. 243-250.
23. Edington J.W. Monographs in practical electron microscopy in materials science. P. 1. The operation and calibration of electron microscope // Philips Technical Library. -1989. - 33 р.
24. Бублик В.Т., Дубровина А.Н. Методы исследования структуры полупроводников и металлов. - М.: Металлургия. - 1978. - 272 с.
25. Новые методы исследования текстур поликристаллических материалов / Под ред. И.И. Папирова - М.: Металлургия, 1985. - 311 с.
26. Эндрюс К., Дайсон Д., Киоун С. Электронограммы и их интерпретация. - М.: Мир, 1971. - 250 с. (Andrews K.W., Dyson D.J., Keown S.R. Interpretation of electron diffraction Patterns. - London: Butterworths, 1968).
27. Миркин Л.И. Рентгеноструктурный анализ. - Т. 2. Индицирование рентгенограмм. - М.: Наука, 1981. - 494 с.
28. Powder diffraction files. Inorganic // Published by the JCPDS-International Center for Diffraction Data. - Pennsylvania, 1998.
29. Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел. - М.-Л.: Гос. изд-во технико-теоретической лит-ры, 1952. - 588 с.