Отмечены преимущества от реализации электронографических исследований текстур (ЭИТ) в рамках электронно-микроскопических исследованиях (ЭМИ), превращающие его, по сути, в новый метод с уникальными: локальностью, информативностью и разрешением. Он отличается прецизионным контролем осей проекций, позволяет объединить в одном эксперименте и для одного и того же объема электронографические и электронно-микроскопические исследования, выбирать исследуемые объемы не только на основе особенностей ЭМИ картин, но также на основе ЭИТ и т. д. Указано, что экспериментатор, опираясь на описанные закономерности и предложенные методики, может сам развивать варианты исследований, отвечающие исследуемому объекту и собственным навыкам.
1. Максимов С.К. Особенности, методика и преимущества интегрального метода исследования текстур наноразмерных кристаллитов в электронной микроскопии. I. Физические основы метода // Изв. вузов. Электроника. - 2008. - № 3. - С. 85-84.
2. Пинскер З.Г. Дифракция электронов. - М.: Изд-во АН СССР, 1949. - 429 с.
3. Gnauck. Accuracy of Crossbeam Technology // The Nanotech Journal. - 2005. - N 1. - Р. 1-5.