Персоналии

Гончаров Игорь Николаевич
доктор технических наук, доцент, профессор кафедры электронных приборов Северо-Кавказского горно-металлургического института (государственного технологического университета) (Россия, 362021, Республика Северная Осетия – Алания, г. Владикавказ, ул. Николаева, 44), заведующий лабораторией ядерных исследований Северо-Осетинского государственного университета имени К. Л. Хетагурова (Россия, 362025, Республика Северная Осетия – Алания, г. Владикавказ, ул. Ватутина, 44-46)

Статьи автора

Вторично-эмиссионный умножитель пространственно распределенных потоков электронов - микроканальная пластина - определяет усилительные характеристики электронно-оптических преобразователей и фотоэлектронных умножителей. Совершенствование параметров микроканальной пластины, а также поиск новых подходов к изготовлению вторично-эмиссионных умножителей на альтернативных материалах - актуальная задача. В работе рассмотрено применение самоорганизующихся и высокоупорядоченных пористых анодных структур оксида алюминия в качестве эффективных вторично-электронных эмиттеров. Предложены теоретические и практические подходы к разработке и реализации компьютерной модели процессов умножения электронов в канале структуры на основе оксида алюминия. По результатам расчетов, выполненных с использованием данной модели, установлены усилительная способность таких каналов, их оптимальный калибр, равный 25, и напряжение питания, равное 300 В. Проведен сравнительный анализ данных характеристик вторично-электронных умножителей с соответствующими параметрами микроканальных пластин на основе свинцово-силикатного стекла. Установлено, что пористый анодированный оксид алюминия пригоден для изготовления вторично-электронных умножителей. Его вторично-эмиссионная способность значительно выше, чем у свинцово-силикатного стекла.

  • Просмотров: 704 | Комментариев : 0

Важным узлом электронного микроскопа является система управления электронным лучом, отвечающая за формирование растра на образце и фокусировку электронного зонда, обеспечивающую достижение минимума аберраций и максимума разрешающей способности у формируемого электронного изображения. При эксплуатации электронного микроскопа происходит постепенное ухудшение качества изображения, проявляющееся в снижении разрешающей способности и усиленном проявлении астигматизма. В работе представлена приставка для растрового электронного микроскопа, позволяющая проводить высокоэффективную диагностику конфигурации сканирующего электронного луча, управляемого прецизионной магнитооптической системой. Установлено, что непосредственное визуальное наблюдение за сканирующим электронным зондом, в частности оценка эллиптичности его сечения, с помощью матрицы веб-камеры, совмещенной с плоскостью образца, обеспечивает эффективную настройку и ремонт растрового электронного микроскопа.

  • Просмотров: 670 | Комментариев : 0

Рассмотрена проблема повышения коэффициента преобразования двухкамерных электронно-оптических преобразователей, используемых в технике ночного видения. В работе приведены результаты исследования влияния технологии вакуумной обработки обеих камер данных изделий на их усилительную способность. Предложены способы повышения уровня коэффициента преобразования путем изменения температурно-временного режима обработки фотокатода первой камеры прибора и оптимизации процессов напыления хрома на слюдяную подложку катода второй камеры. В ходе исследований использовались инструментальный, экспертный и статистический анализы, неразрушающий и разрушающий технологический контроль. В результате выход годных изделий по уровню коэффициента преобразования повысился на 35 %, прирост среднего значения η составил около 65 %.

  • Просмотров: 1150 | Комментариев : 0

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru