Приведены результаты измерения температурного коэффициента напряжения логической единицы логических элементов КМОП цифровых микросхем при различных токах нагрузки. Предложена модель, объясняющая полученные зависимости на основе температурной зависимости подвижности носителей заряда в канале выходных МОП-транзисторов.
Ламзин Владимир Александрович
Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН Ульяновский государственный технический университет
Сергеев Вячеслав Андреевич
Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, г. Ульяновск, Россия; Ульяновский государственный технический университет, г. Ульяновск, Россия