Персоналии
Статьи автора
Приведены результаты измерения температурного коэффициента напряжения логической единицы логических элементов КМОП цифровых микросхем при различных токах нагрузки. Предложена модель, объясняющая полученные зависимости на основе температурной зависимости подвижности носителей заряда в канале выходных МОП-транзисторов.
- Просмотров: 1251 | Комментариев : 0