Реализация базовых методов радиационных испытаний ЭКБ на основе аппаратно-программного комплекса аппаратуры National Instruments

Раздел находится в стадии актуализации

Рассмотрен аппаратно-программный комплекс для проведения радиационных испытаний электронной компонентной базы, который реализован на основе аппаратной платформы National Instruments и среды
Бобровский Дмитрий Владимирович
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Давыдов Георгий Георгиевич
Институт экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ
Петров Андрей Григорьевич
Институт экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ
Яненко Андрей Викторович
АО «ЭНПО СПЭЛС», г. Москва, Россия
Ахметов Алексей Олегович
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Боруздина Анна Борисовна
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Калашников Олег Арсеньевич
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Кессаринский Леонид Николаевич
Институт экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ
Некрасов Павел Владимирович
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Никифоров Александр Юрьевич
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», г. Москва, Россия
Уланова Анастасия Владиславовна
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», г. Москва, Россия

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru