Реализация базовых методов радиационных испытаний ЭКБ на основе аппаратно-программного комплекса аппаратуры National Instruments
Главная
О журнале
Этика
Порядок рецензирования
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Известия высших учебных заведений. Электроника: Электроника
Menu button
Известия высших учебных заведений.
Электроника
home
Главная
О журнале
Этика
Порядок рецензирования
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Известия высших учебных заведений. Электроника
Найти
Главная
О журнале
Этика
Порядок рецензирования
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Реализация базовых методов радиационных испытаний ЭКБ на основе аппаратно-программного комплекса аппаратуры National Instruments
Известия высших учебных заведений
Публикации журнала
№5 (97)
Публикация 150
Раздел находится в стадии актуализации
Аннотация
Об авторах
Список литературы
Рассмотрен аппаратно-программный комплекс для проведения радиационных испытаний электронной компонентной базы, который реализован на основе аппаратной платформы National Instruments и среды
Ключевые слова:
аппаратно-программный комплекс
,
радиационные испытания
,
электронная компонентная база
,
National Instruments
,
LabView
Опубликовано в разделе:
Методы и техника измерений
Библиографическая ссылка:
Бобровский Дмитрий Владимирович
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Давыдов Георгий Георгиевич
Институт экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ
Петров Андрей Григорьевич
Институт экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ
Яненко Андрей Викторович
АО «ЭНПО СПЭЛС», г. Москва, Россия
Ахметов Алексей Олегович
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Боруздина Анна Борисовна
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Калашников Олег Арсеньевич
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Кессаринский Леонид Николаевич
Институт экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ
Некрасов Павел Владимирович
ОАО «ЭНПО «Специализированные электронные системы» (г. Москва)
Никифоров Александр Юрьевич
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», г. Москва, Россия
Уланова Анастасия Владиславовна
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», г. Москва, Россия