Лазерное имитационное моделирование объемных ионизационных эффектов в субмикронных СБИС
Главная
О журнале
Этика
Порядок рецензирования
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Известия высших учебных заведений. Электроника: Электроника
Menu button
Известия высших учебных заведений.
Электроника
home
Главная
О журнале
Этика
Порядок рецензирования
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Известия высших учебных заведений. Электроника
Найти
Главная
О журнале
Этика
Порядок рецензирования
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Лазерное имитационное моделирование объемных ионизационных эффектов в субмикронных СБИС
Известия высших учебных заведений
Публикации журнала
№5 (97)
Публикация 60
Раздел находится в стадии актуализации
Аннотация
Об авторах
Список литературы
Адекватность лазерного имитационного моделирования объемных ионизационных эффектов (мощности дозы) в микросхемах нарушается
Ключевые слова:
мощность дозы
,
лазерное моделирование
,
металлизация
,
дифракция
Опубликовано в разделе:
Микроэлектронные приборы и системы
Библиографическая ссылка:
Скоробогатов Петр Константинович
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»