Лазерное имитационное моделирование объемных ионизационных эффектов в субмикронных СБИС

Раздел находится в стадии актуализации

Адекватность лазерного имитационного моделирования объемных ионизационных эффектов (мощности дозы) в микросхемах нарушается
Скоробогатов Петр Константинович
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru