Улучшение системы позиционирования в сканирующей зондовой микроскопии

Раздел находится в стадии актуализации

Разработан метод, уменьшающий величину температурного дрейфа зонда относительно образца, работающий в совокупности с известными методами уменьшения температурного дрейфа. Метод основан на температурной стабилизации электронной системы управления и считывания данных.
Крупкина Татьяна Юрьевна
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия
Пьянков Евгений Сергеевич
Московский государственный институт электронной техники (технический университет)
Алексеев Алексей Алексеевич
Московский государственный институт электронной техники (технический университет)
Измайлов Дмитрий Андреевич
ЗАО «Нанотехнология МДТ» (г.Москва)

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru