<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-categories/><title-group><article-title xml:lang="en">Archives</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Улучшение системы позиционирования 
в сканирующей зондовой микроскопии</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Крупкина Татьяна Юрьевна</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Крупкина</surname><given-names>Татьяна Юрьевна</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Krupkina</surname><given-names>Tatiana Yu.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Tatiana Yu. Krupkina</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Пьянков Евгений Сергеевич </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Пьянков</surname><given-names>Евгений Сергеевич </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Sergeevich</surname><given-names>Pyankov Evgeniy</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Pyankov Evgeniy Sergeevich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-2"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Алексеев Алексей Алексеевич </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Алексеев</surname><given-names>Алексей Алексеевич </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Alekseevich</surname><given-names>Alekseev Aleksey</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Alekseev Aleksey Alekseevich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-2"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Измайлов Дмитрий Андреевич </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Измайлов</surname><given-names>Дмитрий Андреевич </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Andreevich</surname><given-names>Izmaylov Dmitriy</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Izmaylov Dmitriy Andreevich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-3"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия</aff><aff id="AFF-2" xml:lang="ru">Московский государственный институт электронной техники (технический университет)</aff><aff id="AFF-3" xml:lang="ru">ЗАО «Нанотехнология МДТ» (г.Москва)</aff></contrib-group><fpage>78</fpage><lpage>79</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/issues/86-_2010/uluchshenie_sistemy_pozitsionirovaniya_v_skaniruyushchey_zondovoy_mikroskopii/</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>The method for reducing speed of the thermo drift of a probe relative to the sample has been developed. The method works together with the known methods of the thermo drift speed reduction. The method is based on the temperature stabilization of the electronic control system and the data read-out.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Разработан метод, уменьшающий величину температурного дрейфа зонда относительно образца, работающий в совокупности с известными методами уменьшения температурного дрейфа. Метод основан на температурной стабилизации электронной системы управления и считывания данных.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>сканирующая зондовая микроскопия</kwd><kwd>повышенная точность измерений</kwd><kwd>термодрейф</kwd><kwd>влияние температуры</kwd><kwd>температура</kwd><kwd>температурная стабилизация</kwd></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list/>    
  </back>
</article>
