Исследование напряженно-деформированного состояния материалов герметизированной сборочной конструкции СВЧ МДП-диодов

Раздел находится в стадии актуализации

Проведены исследования напряженно-деформированного состояния материалов конструкции СВЧ МДП-диодов, выполненной в виде соединения кремниевой мембраны с двумя золотыми балочными выводами, при температурном воздействии и воздействии повышенного атмосферного давления. Конструкция защищена различными герметизирующими материалами на основе лаков, эмалей, компаундов. Разработаны рекомендации по минимизации напряженно-деформированного состояния соединения разнородных материалов путем физической совместимости материалов герметизированной сборочной конструкции диода.
Погалов Анатолий Иванович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия
Грушевский Александр Михайлович
Московский государственный институт электронной техники(технический университет)
Долговых Юрий Геннадьевич
Московский государственный институт электронной техники(технический университет)
Сурин Юрий Васильевич
АО «Научно-исследовательский институт микроприборов-К», г. Москва, Россия
Виговская Татьяна Владимировна
ФГУП «НИИМП-К», г. Москва
Бычкова Валентина Сергеевна
ГУП НПЦ «СПУРТ», г. Москва

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru