В современных цифровых системах на кристалле объем встроенной памяти увеличивается. Она занимает значительную площадь на кристалле, что приводит к новым дефектам изготовления и снижает процент выхода годных систем. В работе предложена архитектура встроенных средств саморемонта, обеспечивающая восстановление работоспособности оперативной памяти системы на кристалле при многократных отказах за счет реконфигурации основной и резервной памяти. Рассмотрена микросхема оперативной памяти системы на кристалле, содержащая основную и резервную память, а также встроенные средства самотестирования и саморемонта. Выполнена верификация проекта встроенных средств саморемонта оперативной памяти с автоматическим восстановлением работоспособности при четырехкратных отказах. Показано, что данное техническое решение уменьшает массу изделия по сравнению с устройствами с мажоритарным резервированием, так как резервируется не вся память, а только основные компоненты, наиболее подверженные отказам. Восстановление работоспособного состояния памяти цифровой системы на кристалле выполнено в автоматическом режиме без участия персонала. Встроенные средства самотестирования и саморемонта оперативной памяти могут применяться в цифровых системах промышленного и специального назначения, в том числе в космических системах с длительным сроком активного существования.