Сравнительный анализ аналитических и эмпирических методик оценки текущих параметров надежности радиолокационных комплексов мониторинга

Сравнительный анализ аналитических и эмпирических методик оценки текущих параметров надежности радиолокационных комплексов мониторинга

Раздел находится в стадии актуализации

Достигнутый в настоящее время высокий уровень цифровизации современных радиолокационных комплексов мониторинга (РКМ) и наличие системы встроенного контроля, регистрирующей данные о техническом состоянии компонентов, позволяют перейти к высокоточной оценке характеристик надежности по реальным данным работы РКМ. Реализация такого метода уточнения характеристик надежности по текущим значениям параметров технического состояния компонентов РКМ фактически в режиме реального времени может быть обеспечена при условии разработки универсального алгоритма уточнения параметров распределения с использованием эмпирической функции распределения. В работе проанализированы данные об отказах РКМ. Pассмотрены два варианта описания этих данных для оценки надежностных характеристик: аппроксимация аналитическим распределением и прямое использование эмпирического распределения. Использованы такие методы эмпирического исследования, как сравнение функции плотности распределения отказов, интенсивности отказов и γ-процентные ресурсы. Установлено, что описание через аналитическое распределение неадекватно. На это указывает малый p -уровень значимости при аппроксимации методом максимального правдоподобия, значительно отличающиеся интенсивности отказов и γ-ресурсы и, как следствие, неточный прогноз по вероятности отказа.
Тимошенко Александр Васильевич
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия; АО «РТИ», г. Москва, Россия
Калеев Дмитрий Вячеславович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия
Перлов Анатолий Юрьевич
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия; АО «РТИ», г. Москва, Россия
Антошина Виктория Михайловна
АО «РТИ», г. Москва, Россия; Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), г. Долгопрудный, Россия
Рябченко Дмитрий Вадимович
АО «РТИ», г. Москва, Россия; Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, г. Москва, Россия

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru