Исследованы особенности термостабилизации устройств сканирующей зондовой микроскопии. Разработан универсальный термоконтроллер с внутренней термостабилизацией, обеспечивающий повышенную точность поддержания температуры в процессе измерений.
Быков Виктор Александрович
НТ-МДТ, г. Москва, Россия; Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), г. Москва, Россия