Влияние рентгеновского излучения на низкочастотный шум ИС

Рассматривается чувствительность различных параметров интегральных схем, выполненных по разной технологии, к рентгеновскому излучению и возможность прогноза уровня низкочастотного шума.

• Ключевые слова: рентгеновское излучение, низкочастотный шум ИС, надежность
• Опубликовано в разделе: Технология микроэлектроники
• Библиографическая ссылка: