The sensitivity various parameters of the integrated circuits executed on different technologies to x-ray radiation and the possibility of predicting the level of the low-frequency noise have been considered.
Рассматривается чувствительность различных параметров интегральных схем, выполненных по разной технологии, к рентгеновскому излучению и возможность прогноза уровня низкочастотного шума.