Эффективный метод локализации ошибок при проектировании специализированных БИС

Раздел находится в стадии актуализации

В настоящее время в отечественных САПР отсутствует подсистема локализации ошибок на этапе функционально-логического проектирования. В работе проанализированы существующие методы САПР и рассмотрен необходимый минимальный функционал для метода локализации ошибок в рамках улучшения САПР «Ковчег». Предложен эффективный метод локализации ошибок на основе требований отечественного технологического процесса и проведенного анализа САПР. Представлена формализация задачи сокращения времени проектирования БИС. Дополнительно приведена схема данных разрабатываемой подсистемы локализации ошибок, учитывающая особенности САПР «Ковчег». К ним, в частности, относятся структура проектов БИС и особенности хранения в них информации. Рассмотрена зависимость времени разработки БИС от степени интеграции микросхемы до и после встраивания в САПР подсистемы локализации ошибок. Сокращение времени разработки БИС при данных упрощениях и усреднениях составляет около 7 % при идеальных условиях работы, что соответственно позволит уменьшить и стоимость микросхемы.
Гагарина Лариса Геннадьевна
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия
Гайдук Игорь Олегович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия
Кремер Евгений Александрович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия
Можжухина Арина Валерьевна
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия; НПК «Технологический центр», г. Москва, Россия

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru