Расчет неизотермического токораспределения в приборных структурах с дефектами представляет сложную задачу. Компьютерное моделирование неизотермическоrо токораспределения в биполярном транзисторе (БТ) с симметричной структурой проведено с помощью программы Workbanch, дополненной блоком расчета температуры переходов частей структуры. Полученные соотношения позволяют рассчитать разности токов и температур между симметричными частями БТ, обусловленные технологическими дефектами. Результаты могут быть использованы для оценки погрешностей дифференциальных каскадов на БТ, а также при разработке средств контроля качества БТ методом сравнения.
Сергеев Вячеслав Андреевич
Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, г. Ульяновск, Россия; Ульяновский государственный технический университет, г. Ульяновск, Россия
Дулов Олег Александрович
Ульяновский государственный технический университет, Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН
Куликов Александр Александрович
Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А.Котельникова Российской академии наук, г. Ульяновск, Россия
1. Кернер Б.С, Рубаха Е.А., Синкевич В.Ф. Анализ токораспределения в cтpyктypax мощных ВЧ и СВЧ транзисторов с неоднородностью // Электронная техника. Сер. 2. Полупроводниковые приборы. - 1978. - Вып. 1. - С. 15-29.
2. Кузнецов Г.В., Белозерцев А.В. Поля температур поверхности кристалла мощного биполярного транзистора // Изв. вузов. Электроника. - 2007. - № 1. - С. 22-26.
3. Чаплыгин Ю.А., Галушков А.И., Семенов А.А. и др. Магнитотранзистор с регулируемыми характеристиками в низкоомном состоянии // Изв. вузов. Электроника. - 2004. - № 3. - С. 52-58.
4. Петросянц К.О., Мальцев П.П., Рябов Н.И., Харитонов И.А. Электротепловое проектирование мощных «интеллектуальных» интегральных схем // Изв. вузов. Электроника. - 1998. - № 3. - С. 73-82.
5. Сергеев В.А. Методы и средства измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем // Электронная промышленность. - 2004. - № 1. - С. 45-48.