Оценка профессиональных рисков в технологических помещениях на предприятии микроэлектроники

Оценка профессиональных рисков в технологических помещениях на предприятии микроэлектроники

В современной системе обеспечения безопасного производства процедура оценки и управления профессиональными рисками как вероятностью причинения ущерба здоровью при выполнении трудовых обязанностей приобрела для предприятий микроэлектроники обязательный характер. Эта процедура предусматривает применение системных методов идентификации, мониторинга и анализа риска, фиксации полученных результатов, их интерпретацию и составление необходимой отчетности. В работе выполнен анализ рисков в технологических помещениях на предприятии микроэлектроники. Предложены корректирующие организационные мероприятия, позволяющие минимизировать вероятность возникновения опасного события и последующий ущерб. Процедура оценки профессиональных рисков осуществлена методом Файна - Кинни. Данный метод является наиболее информативным и учитывает тяжесть происшествия, а также его экономические последствия для предприятия. Установлено, что источники значительного риска в основном связаны с недостатками в планировке помещений, нарушением сроков лицензирования на работу с рентгеновским оборудованием, отсутствием вытяжной вентиляции, морально устаревшей системой сбора отработанной шлифовальной суспензии. Устранение этих недостатков дает возможности для понижения класса опасности профессиональных рисков и пересмотра тарифов в сторону их уменьшения.
Валерий Иванович Каракеян
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия
Николай Романович Харламов
Национальный исследовательский университет «МИЭТ»
Андрей Сергеевич Рябышенков
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия
Поделиться