Персоналии

Комков Василий Николаевич

Статьи автора

Описана методика трехпроходных измерений в магнитной силовой микроскопии, обеспечивающая получение уточненных магнитных изображений нано- и микрообъектов, исключающая возможное паразитное действие при получении магнитного изображения дальнодействующих электростатических сил.

  • Просмотров: 1298 | Комментариев : 0

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru