Персоналии

Казанков Александр Александрович

Ульяновский государственный технический университет, г. Ульяновск, Россия; Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова Российской академии наук, г. Ульяновск, Россия
аспирант кафедры радиотехники, опто- и наноэлектроники Ульяновского государственного технического университета (432027, г. Ульяновск, ул. Северный Венец, 32); ведущий инженер Ульяновского филиала Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова Российской академии наук (Россия, 432071, г. Ульяновск, ул. Гончарова 48/2)

Пономарева Ирина Юрьевна

Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», Москва, Россия
студент Московского института электроники и математики им. А. Н. Тихонова Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики» (Россия, 123458, г. Москва, ул. Таллинская, 34)

Кузнецов Артем Андреевич

Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», Москва, Россия
студент Московского института электроники и математики им. А. Н. Тихонова Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики» (Россия, 123458, г. Москва, ул. Таллинская, 34)

Шуваев Алексей Вячеславович

Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики», Москва, Россия
студент Московского института электроники и математики им. А. Н. Тихонова Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики» (Россия, 123458, г. Москва, ул. Таллинская, 34)

Юрин Александр Игоревич

Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики», Москва, Россия; Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений, Москва, Россия
кандидат технических наук, доцент департамента электронной инженерии Московского института электроники и математики им. А. Н. Тихонова Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики» (Россия, 123458, г. Москва, ул. Таллинская, 34); старший научный сотрудник научно-исследовательского отделения голографии, оптической томографии, нанотехнологий и наноматериалов Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений (Россия, 119361, г. Москва, ул. Озерная, 46)

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru