Влияние конечного размера пятна лазерного облучения на достоверность оценки сечений одиночных эффектов

Рассмотрен метод корректировки значения сечения одиночных

Савченков Дмитрий Владимирович
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Печенкин Александр Александрович
Институт экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ