Выделение локальных особенностей бинарного изображения отпечатка пальца

Раздел находится в стадии актуализации

Предложен алгоритм выделения точек разветвлений и окончаний бинарного изображения отпечатка пальца. Рассмотрены некоторые применяемые на практике подходы по выделению локальных особенностей. Проведен сравнительный анализ с оценкой точности определения местоположения особых точек и времени работы алгоритмов.
Туркин Андрей Владимирович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ»

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru