Оценка точности определения параметров моделей полевого транзистора

Раздел находится в стадии актуализации

При экстракции параметров методом наименьших квадратов случайная составляющая погрешности экстракции со снижением ошибки измерений и увеличением размера выборки экспериментальных данных в общем случае падает ограниченно. Рассмотрены способы оценки и уменьшения этой погрешности.
Бирюков Вадим Николаевич
Технологический институт Южного федерального университета в г. Таганроге

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru