На основе анализа исследований фоторефрактивного эффекта предложены новые методики локальных измерений коэффициента поглощения света на длине волны излучения накачки и коэффициента влияния концентрации неравновесных носителей заряда на коэффициент преломления света на длине волны зондирующего излучения. Теоретически и экспериментально исследованы особенности применения предложенных методик.
1. Rosencwaig А. Photoacoustics and photoacoustic spectroscopy. - N.Y.: Wiley, 1980. - 299 р.
2. Fournier D., Воссага А.С., Skumanich А., Аmег N.M. Photothermal investigation of transport in semiconductors:
theory and experiment // J. Appl. Phys. - 1986. - Vol. 59, N 3. - Р. 787-795.
3. Миргородский В.И., Орлова Г.А., Филатов А.Л. Дистанционное зондирование температуропроводности
твердых тел фототермодеформационным методом // ЖТФ. - 1992. - Т. 3. - Вып. 63. - С. 180-185.
4. Filatov A.L., Sablicov V.A., Mirgorodsky V.I. Photorefractive method of contactless determination of
the charge carrier lifetime and diffusion coefficient in semiconductors // Semicond. Sci. Technolol. - 1993. -
Vol. 8. - Р. 694-699.
5. Филатов А.Л., Миргородский В.И., Сабликов В.А. Фоторефрактивный метод бесконтактного зондирования
рекомбинационных параметров полупроводников // ФТП. - 1993. - Т. 27. - Вып. 1. - С. 81-85.
6. Филатов А.Л. Квазилинейный фоторефрактивный эффект в кремнии // Физика и техника полупроводников.
-2000. - Т. 34. - Вып. 11. - С. 1322-1326.
7. Филатов А.Л., Луговской А.В. Особенности применения фоторефрактивного эффекта для комплексного
трехмерного локального измерения электрофизических параметров кремниевых структур // Изв. вузов. Электроника. - 2008. - № 1. - С. 74-78.
8. Jellison G.E., Jr. and Вurkе Н.Н. The Temperature dependence of the refгactive index of silicon at elevated
temperatures at several laser wavelengths // J. of Appl. Phys. - Vol. 60, N 2. - Р. 841-843.
9. Зи С. Физика полупроводниковых приборов: В 2 кн. Кн. 1: Пер. с англ. - М.: Мир, 1984. - 456 с.
10. Физические величины: Справочник / Под ред. И.С. Григорьева, Е.З. Мейлихова. - М.: Энерrоиздат,
1991. - 1232 с.