Известия высших учебных заведений. Электроника home

№ 5

Содержание

Свернуть

Задать фильтры

Материалы электронной техники

Жидкие полупроводники (Обзор)

Авторы: Кольцов В. Б.

3 - 15

Технология микроэлектроники

Разработка режима осаждения пленок SiO2 в плазмостимулированном ТЭОС-процессе

Авторы: Демин С. В., Киреев В. Ю., Столяров А. А.

16 - 24

Влияние процесса анодного окисления кремния на параметры диффузии примесей бора и фосфора из легированных оксидных пленок

Авторы: Милешко Л. П., Авдеев С. П.

25 - 32

Методика оценки прочности щелевого кварцевого реактора установки эпитаксиального наращивания единичных пластин

Авторы: Сажнев С. В., Миркурбанов Х. А., Тимофеев В. Н.

33 - 39

Микроэлектроника и полупроводниковые приборы

Моделирование маломощного биполярно-полевого N-транзистора с шунтированием эмиттерного перехода

Авторы: Гурин Н. Т., Каштанкин И. А., Новоселов А. Ю.

40 - 45

Метод исследования радиационно-индуцированных изменений границы раздела полупроводник–диэлектрик в МДП-транзисторе с учетом эффектов короткого канала и планарной неоднородности

Авторы: Татаринцев А. В., Левин М. Н., Макаренко В. А.

46 - 53

Схемотехника и проектирование

Повышение температурной стабильности низковольтных источников опорного напряжения методом компенсации кривизны выходного напряжения

Авторы: Кочкин И. В., Степанова М. В.

54 - 61

Анализ методов планировки топологии СБИС

Авторы: Хамидулин P. Х., Щемелинин В. М.

62 - 69

Информационные технологии

Система управления корпоративной базой данных с автоматизированной функцией экспорта/импорта в web-формат

Авторы: Мелик-Овсепян Р. В., Федотова Е. Л.

70 - 73

Метод быстрого видеокодирования на основе двумерного вейвлет-преобразования

Авторы: Сычев М. Б., Умняшкин С. В.

74 - 78

Методы и техника измерений

Оптический метод бесконтактного контроля шероховатости при автоматизации технологического процесса

Авторы: Ким К. Ю., Никулин В. Б., Грушевский А. М.

79 - 83

Биомедицинская электроника

Реконструкция томограмм в трансмиссионной оптической томографии рассеивающих сред на основе осевой модели переноса излучения

Авторы: Терещенко С. А., Потапов Д. А.

84 - 91

Краткие сообщения

Матрицы тонкопленочных транзисторов для управления жидкокристаллическим дисплеем

Авторы: Севостьянов В. П., Митрохин М. В., Кузьмин Н. Г.

92 - 93

Конференции

12 Международная торговая ярмарка сенсорных, измерительных и испытательных технологий с проведением конференций

94 -

Международная конференция «Термодинамика сплавов» TOFA – 2004

94 -

Contents № 5 2004

95 -

Abstracts № 5 2004

95 - 98

свежий выпуск

Том. 28 №5

К 80-летию со дня рожд ения

Усанова Дмитрия Александровича

Выход журнала в 2023 году

№ 1.
Выход в свет: февраль
№ 2.
Выход в свет: апрель

№ 3.
Выход в свет: июнь

№ 4.
Выход в свет: август

№ 5.
Выход в свет: октябрь

№ 6.
Выход в свет: декабрь

Новости

23.10.2023 Вышел в свет том 28, № 5, 2023 г.

Уважаемые коллеги!
Сообщаем, что научно-технический журнал "Известия высших учебных заведений. Электроника" том 28, № 5, 2023 г. вышел в свет.

23.08.2023 Вышел в свет том 28 № 4, 2023 г.

Уважаемые коллеги!
Сообщаем, что научно-технический журнал "Известия высших учебных заведений. Электроника" том 28, № 4, 2023 г. вышел в свет.

30.06.2023 Вышел в свет том 28 № 3, 2023 г.

Уважаемые коллеги!
Сообщаем, что научно-технический журнал "Известия высших учебных заведений. Электроника" том 28, № 3, 2023 г. вышел в свет.

Все события и новости