Публикации журнала
Главная
О журнале
Этика
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Известия высших учебных заведений. Электроника: Электроника
Menu button
Известия высших учебных заведений.
Электроника
home
Главная
О журнале
Этика
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Известия высших учебных заведений. Электроника
Найти
Главная
О журнале
Этика
Авторам
Новости
Выпуски
Тематический указатель статей
Индексирование
Подписка
Контакты
Поиск
Публикации журнала
Известия высших учебных заведений
Публикации журнала
Раздел находится в стадии актуализации
Статьи
Упорядоченная фаза La2CaF8 с модифицированной структурой тисонита
3 - 7
Травление кремния методом переменной модуляции газов SF6 и C4F8
8 - 12
Особенности технологического процесса очистки полупроводниковых структур на основе электрохимического синтеза и рекуперации растворов
13 - 17
Расчет индуктивности корпуса для СВЧ интегральных микросхем
18 - 22
Численный расчет вероятности включения микроплазмы в p–n-переходе
23 - 30
Модель барьерной емкости диода с короткой базой
31 - 35
Программное обеспечение НЧ шумовой спектроскопии глубоких уровней
36 - 43
Использование нейронных сетей в задачах прогнозирования деградации выходных параметров ИС
44 - 52
Метод оценки электрических параметров солнечных элементов в процессе контроля их эксплуатационных характеристик
53 - 58
PSPICE-модель электретного преобразователя физических величин
59 - 64
Аппаратные средства введения помехоустойчивого кодирования для повышения отказоустойчивости СБИС оперативной памяти
65 - 70
Выбор оптимальной структуры функционально полного контроллера шины SPI с 32-разрядным интерфейсом
71 - 75
Расчет входного сопротивления узкой полосковой кольцевой антенны на основе сингулярного интегрального уравнения с ядром Гильберта
76 - 80
Восьмизондовый метод совместных измерений электропроводимости и коэффициента Холла анизотропных полупроводниковых пленок
81 - 87
Моделирование фотоприемника с отрицательной проводимостью на основе полупроводниковой структуры
88 - 89
Методика контроля номинальных значений емкостей МЭМС
90 - 91
Подготовка и сборка микромеханических элементов с емкостной системой съема перемещений
92 - 93
Телемост «Кремль – регионы»
94 -
Contents № 4 2006
95 -
Abstracts № 4 2006
96 - 98
К сведению авторов
99 - 100