Введено понятие базового схемотехнического узла, решена задача поиска параметров базовых схемотехнических узлов для проектирования библиотек цифровых элементов и приведен маршрут реализации предлагаемого алгоритма. Разработано специализированное программное обеспечение, реализующее поиск параметров базовых схемотехнических узлов в соответствии с разработанным алгоритмом. Проведена оценка эффективности предлагаемого алгоритма в рамках существующего маршрута.
1. Chavez-Martinez E.J., Chavez-Martinez M., Gurrola-Navarro M.A. Modified stand-ard cell methodology for VLSI layout compaction // 9th International Conf. «Electrical Engineer-ing, Computing Science and Automatic Control» (Mexico, 26–28 of September 2012). – 2012. – P. 1–6.
2. Hashimoto M., Fujimori K., Onodera H. Standard cell library with various driving strength cells for 0.13, 0.18, and 0.35 um technologies // Proc. of the ASP-DAC 2003 Asia and South Pa-cific (21–24 January 2003). –2003. – P. 589–590.
3. Перминов В.Н., Макаров С.В., Кокин С.А., Веселов А.Е. Использование параметриче-ской оптимизации при проектировании библиотечных элементов СБИС и специализированных интерфейсов наноэлектронных устройств // Изв. ву-зов. Электроника. – 2010. – № 2 (82). – С. 42–47.
4. Крупкина Т.Ю., Лосев В.В., Муханюк Н.Н., Путря М.Г. Автоматизация проектирова-ния библиотек стандартных элементов на основе параметризованных ячеек в САПР Cadence // Изв. вузов. Электроника. – 2008. – № 4. – С. 31–35.
5. Ильин С.А. Методика определения нагрузочных емкостей для проведения характериза-ции библиотеки стандартных цифровых элементов // Тез. докл. 18-й Всероссийской межвуз. науч.-техн. конф. студентов и аспирантов «МэИнфо–2011». – М., 2011. – С. 77.
6. Красников Г.Я., Орлов О.М. Отличительные особенности и проблемы КМОП-технологии при уменьшении проектной нормы до уровня 0,18 мкм и меньше // Россий-ские нанотехнологии. – 2008. – Т. 3. – № 7–8. – С. 124–128.