Методика восстановления обрабатываемых данных по уровню энергопотребления в цифровых КМОП-схемах

Раздел находится в стадии актуализации

В цифровых КМОП-схемах, включая ПЛИС, энергопотребление при переключении логических состояний определяется конфигурацией битовых векторов. Анализ этих характеристик позволяет выявлять физические закономерности функционирования цифровых регистров и на их основе определять значения, обрабатываемые устройством. Совершенствование методов анализа энергопотребления способствует повышению качества проектируемых устройств, в том числе с точки зрения обработки конфиденциальной информации. В работе для повышения точности идентификации обрабатываемых данных на основе сигнала энергопотребления предложена методика оценки устойчивости амплитудного профиля. Эффективность данного подхода оценена с использованием автоматизированного экспериментального стенда на базе ПЛИС. Проведено сравнение рассмотренных методов с традиционными статистическими методами. Показано, что оценка устойчивости амплитудного профиля, проведенная согласно предложенной методике, превосходит стандартные подходы по точности на 14 %.
Алексеев Валерий Дмитриевич
АО «Научно-исследовательский институт молекулярной электроники», Россия, 124460, г. Москва, г. Зеленоград, ул. Академика Валиева, 6, стр. 1; Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1
Лосев Владимир Вячеславович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1
Тишин Александр Сергеевич
АО «Научно-исследовательский институт молекулярной электроники», Россия, 124460, г. Москва, г. Зеленоград, ул. Академика Валиева, 6, стр. 1
Михайлов Виктор Юрьевич
АО «Научно-исследовательский институт молекулярной электроники», Россия, 124460, г. Москва, г. Зеленоград, ул. Академика Валиева, 6, стр. 1; Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет Россия, 141701, Московская обл.

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru