Анализ влияния интерметаллидных фаз AlxAuy и AlxСuy на надежность микросварных соединений интегральных микросхем

Раздел находится в стадии актуализации

В микросварных соединениях интегральных микросхем, микросборок и систем в корпусе образующиеся интерметаллидные фазы в контактах Al-Cu и Al-Аu вызывают хрупкость и пористость интерметаллидных соединений. В результате механические и электрические свойства Al-Cu, Al-Аu ухудшаются. В работе представлены результаты экспериментальных исследований процессов формирования интерметаллидов и надежности проволочных микросварных соединений AlxAuy и AlxСuy в микросхемах. Для проволочных соединений Al-Au и Al-Cu рассчитаны сопротивления и максимальные постоянные токи. Установлены зависимости максимальных механических напряжений и температур от диаметра проволоки при максимальном токе потребления для микросхем. По результатам моделирования отрыва золотой и медной проволок от алюминиевой контактной площадки с учетом влияния интерметаллидных фаз даны практические рекомендации по использованию отечественных материалов. Установлено, что максимальные механические напряжения возникают в месте приложения силы и по краям области интерметаллидного соединения. Выявлено, что, несмотря на рост предельной нагрузки на растяжение с увеличением диаметра проволоки от 18 до 27 мкм, основным лимитирующим фактором является смещение области максимальных механических напряжений на края контактной площадки (для меди и золота) и образование пустот Киркендалла в интерметаллидном соединении (для золота), что снижает общую надежность соединения. Результаты исследования могут быть использованы при формировании проволочных микросварных соединений AlxAuy и AlxСuy в интегральных микросхемах.
  • Ключевые слова: термозвуковая микросварка, интерметаллиды, механические напряжения, интегральная микросхема
  • Опубликовано в разделе: Mатериалы электроники
  • Библиографическая ссылка: Титов А. Ю., Вертянов Д. В., Артюшин Д. И., Коровина А. Ю., Коробова Н. Е., Рабцевич В. А., Гладкова С. И. Анализ влияния интерметаллидных фаз AlxAuy и AlxСuy на надежность микросварных соединений интегральных микросхем. Изв. вузов. Электроника. 2025;30(6):694–706. https://doi.org/10.24151/1561-5405-2025-30-6-694-706. EDN: QTYOZR.
  • Источник финансирования: работа выполнена при финансовой поддержке Минобрнауки России в рамках государственного задания (Соглашение FSMR-2022-0002) и Российского научного фонда по проекту НИР «Исследование влияния легирующих элементов и покрытий материала проволочных выводов на процессы формирования интерметаллидов и надежность микросварных соединений Al-Au и Al-Cu интегральных микросхем» (Соглашение № 23-91-06012). Благодарности: авторы выражают благодарность сотрудникам научно-исследовательской лаборатории «Передовые технологии корпусирования и производства 3D микросистем» МИЭТ за ценные консультации и всестороннюю поддержку на протяжении данного исследования.
Титов Андрей Юрьевич
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1
Вертянов Денис Васильевич
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1
Артюшин Денис Игоревич
АО «НИИМА «Прогресс», Россия, 124498, г. Москва, пр-д Черепановых, 54
Коровина Анна Юрьевна
АО «НИИМА «Прогресс», Россия, 124498, г. Москва, пр-д Черепановых, 54
Коробова Наталья Егоровна
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1
Рабцевич Вадим Александрович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1
Гладкова Светлана Игоревна
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru