The method of three-through passage measurements in magnetic force microscopy has been described. It provides to obtain real magnetic images of nano- and micro-objects, excluding possible parasitic action in producing a magnetic image of the long-range electrostatic forces.
Описана методика трехпроходных измерений в магнитной силовой микроскопии, обеспечивающая получение уточненных магнитных изображений нано- и микрообъектов, исключающая возможное паразитное действие при получении магнитного изображения дальнодействующих электростатических сил.