<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-categories/><title-group><article-title xml:lang="en">Archives</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Контроль чистоты реагентов безотходных технологий очистки поверхности полупроводниковых структур методом</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Хаханин Сергей Юрьевич </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Хаханин</surname><given-names>Сергей Юрьевич </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Yurevich</surname><given-names>Khakhanin Sergey</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Khakhanin Sergey Yurevich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru">НПК «Технологический центр» МИЭТ</aff></contrib-group><fpage>74</fpage><lpage>75</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/issues/86-_2010/kontrol_chistoty_reagentov_bezotkhodnykh_tekhnologiy_ochistki_poverkhnosti_poluprovodnikovykh_strukt/</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>The need of using the highly sensitive methods and means of the agent purity control in no waste technologies has been shown. The quality assessment criteria of the agents being used have been chosen, and the methods and means of the control have been determined. The methods and means for the purity control of agents in the no waste technologies have been suggested.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Показана необходимость использования в безотходных технологиях высокочувствительных методов и средств контроля чистоты реагентов. Выбраны критерии оценки качества используемых реагентов  и определены методы и средства контроля неорганических загрязнений. Предложены методы и средства контроля чистоты реагентов в безотходных технологиях.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>методы и средства контроля</kwd><kwd>безотходные технологии</kwd><kwd>инверсионная вольтамперометрия</kwd><kwd>микроэлектроника</kwd><kwd>очистка поверхности</kwd></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list/>    
  </back>
</article>
