Методы и средства контроля чистоты реагентов в безотходных технологиях очистки поверхности полупроводниковых структур

Раздел находится в стадии актуализации

Одной из проблем развития технологических процессов самых различных отраслей является контроль чистоты реактивов. Эта проблема характерна как для входного аналитического контроля реагентов высокой степени чистоты, так и для контроля процессов их регенерирования для повторного использования. В статье предложен оригинальный, апробированный в действующем микроэлектронном производстве, вариант ее решения.
Хаханин Сергей Юрьевич
НПК «Технологический центр» МИЭТ

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru