1. Зебрев Г. И. Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах высокой степени интеграции. НИЯУ МИФИ, 2010. 148 с. [Электронный ресурс]. URL:
http://www.нано-е.рф/uploads/files/Zebrev_Radiacionnye_effekty.pdf (дата обращения: 07.10.2022).
2. Leroy C., Rancoita P.-G. Particle interaction and displacement damage in silicon devices operated in radiation environments // Rep. Prog. Phys. 2007. Vol. 70 (4). P. 493–625.
https://doi.org/10.1088/0034-4885/70/4/R01
3. Pease R. L. Total ionizing dose effects in bipolar devices and circuits // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2003. Vol. 50. Iss. 3. P. 539–551.
https://doi.org/10.1109/TNS.2003.813133
4. Strength of carbon nanotubes depends on their chemical structures / A. Takakura, K. Beppu, T. Nishihara et al. // Nat. Commun. 2019. Vol. 10. Art. No. 3040.
https://doi.org/10.1038/s41467-019-10959-7
5. On the stability and abundance of single walled carbon nanotubes / D. Hedman, H. R. Barzegar, A. Rosén et al. // Sci. Rep. 2015. Vol. 5. Art. No. 16850.
https://doi.org/10.1038/srep16850
6. Huo С., Liang F., Sun A. Review on development of carbon nanotube field emission cathode for space propulsion systems // High Voltage. 2020. Vol. 5. Iss. 4. P. 409–415.
https://doi.org/10.1049/hve.2019.0257
7. Kawano H. Effective work functions for ionic and electronic emissions from mono- and polycrystalline surfaces // Progress in Surface Science. 2008. Vol. 83. Iss. 1-2. P. 1–165.
https://doi.org/10.1016/j.progsurf.2007.11.001
8. Stimulated emission from nitrogen-vacancy centres in diamond / J. Jeske, D. W. M. Lau, X. Vidal et al. // Nat. Commun. 2017. Vol. 8. Art. No. 14000.
https://doi.org/10.1038/ncomms14000
9. Gao S. W., Gong X. Z., Liu Y., Zhang Q. Q. Energy consumption and carbon emission analysis of natural graphite anode material for lithium batteries // MSF. 2018. Vol. 913. P. 985–990.
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.913.985
10. Булярский С. В., Басаев А. С. Катализаторы роста углеродных нанотрубок. Saarbrücken: LAMBERT Academic Publishing, 2015. 124 с.
11. Influence of a buffer layer on the formation of a thin-film nickel catalyst for carbon nanotube synthesis / S. V. Bulyarskiy, E. V. Zenova, A. V. Lakalin et al. // Tech. Phys. 2018. Vol. 63. P. 1834–1839.
https://doi.org/10.1134/S1063784218120253
12. Эмиттеры из углеродных нанотрубок для планарной эмиссионной вакуумной микро- и наноэлектроники / С. А. Гаврилов, Э. А. Ильичев, Э. А. Полторацкий и др. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. № 14. С. 75–81.
13. Латеральный эмиттер как базовый элемент интегральной эмиссионной электрони-ки / С. А. Гаврилов, Э. А. Ильичев, А. И. Козлитин и др. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. № 11. С. 48–53.
14. Пат. 2250526 РФ. Эмиттер для интегральных приборов / С. А. Гаврилов, Э. А. Ильичев, Э. А. Полторацкий, Г. С. Рычков; заявл. 21.07.2003; опубл. 20.04.2005, Бюл. № 11. 9 с.
15. Unidirectional and bi-directional growth of carbon nanotubes on the catalytic Co–Zr–N-(O) material / P. Mierczynski, S. Dubkov, K. Vasilev et al. // Journal of Materials Research and Technology. 2021. Vol. 12. P. 512–520.
https://doi.org/10.1016/j.jmrt.2021.03.015
16. Development of techniques for the formation of a planar electric vacuum diode based on an array of CNTs synthesized at the edge of the Co-Nb-N-(O) film / G. S. Eritsyan, D. G. Gromov, S. V. Dubkov et al. // J. Phys.: Conf. Ser. 2021. Vol. 2103. Art. ID: 012120.
https://doi.org/10.1088/1742-6596/2103/1/012120
17. Growth of carbon nanotube arrays on various CtxMey alloy films by chemical vapour deposition method / P. Mierczynski, S. V. Dubkov, S. V. Bulyarskii et al. // J. Mater. Sci. Technol. 2018. Vol. 34. Iss. 3. P. 472–480.
https://doi.org/10.1016/j.jmst.2017.01.030
18. Nico C., Monteiro T., Graça M. P. F. Niobium oxides and niobates physical properties: Review and prospects // Progress in Materials Science. 2016. Vol. 80. P. 1–37.
https://doi.org/10.1016/j.pmatsci.2016.02.001
19. Forbes R. G. Development of simple quantitative test for lack of field emission ortho-doxy // Proc. R. Soc. A. 2013. Vol. 469. Iss. 2158. Art. ID: 20130271.
https://doi.org/10.1098/rspa.2013.0271
20. Попов Е. О., Колосько А. Г., Филиппов С. В. Тест на соответствие режиму холодной полевой эмиссии с применением приближений Элинсона – Шредника и Форбса – Дина (координаты Мерфи – Гуда) // Письма в ЖТФ. 2020. Т. 46. № 17 (173). С. 6–9.
https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.17.49884.18373
21. Келдыш Л. В. О влиянии колебаний решетки кристалла на рождение электронно-дырочных пар в сильном электрическом поле // ЖЭТФ. 1958. Т. 34. № 4. С. 962–967.
22. Частотная дисперсия крутизны в полевых транзисторах на основе δ-легированных структур / В. А. Гергель, Э. А. Ильичев, Э. А. Полторацкий и др. // ФТП. 1991. Т. 25. Вып. 11. С. 1870–1876.