<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-id pub-id-type="udk">621.3.049.776</article-id><article-categories><subj-group><subject>Микроэлектронные приборы и системы</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">More Precise Model of Low Impedance Film Resistors with Comb Structure</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Уточненная модель низкоомных пленочных резисторов с гребенчатой структурой</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Садков Виктор Дмитриевич</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Садков</surname><given-names>Виктор Дмитриевич</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Sadkov</surname><given-names>Viktor D.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Viktor D. Sadkov</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Лопаткин Александр Викторович </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Лопаткин</surname><given-names>Александр Викторович </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Viktorovich</surname><given-names>Lopatkin Aleksandr</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Lopatkin Aleksandr Viktorovich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-2"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru">Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева, г. Нижний Новгород, Россия</aff><aff id="AFF-2" xml:lang="ru">Институт радиоэлектроники и информационных технологий Нижегородского государственного технического университета им. Р.Е. Алексеева</aff></contrib-group><fpage>607</fpage><lpage>615</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/issues/6-_2015/utochnennaya_model_nizkoomnykh_plenochnykh_rezistorov_s_grebenchatoy_strukturoy/</self-uri><self-uri content-type="pdf">http://ivuz-e.ru/download/6_2015_1828.pdf</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>Using the methods of finite elements and conformal mappings the analytical models of the low resistance film resistors of the main types of comb (interdigital) structures with arbitrary relations of the specific resistances of resistive and conductive films have been built. In the resultant resistance the resistances of comb-like structure electrodes and connecting electrodes as well as additional resistance associated with the transmission of current from the conductive film to the resistive one and vice versa have been taken into account. The conditions, under which the boundary between the films can be considered as equipotential have been revealed. For this case the calculation has been performed by conformal mappings. The circuit of substitution of the low-impedance comb resistors, used as the current sensors in schemes of stabilization, control, thermal and current protection, has been constructed.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Методами конечных элементов и конформных отображений построены аналитические модели низкоомных и ультранизкоомных пленочных резисторов основных типов гребенчатых &amp;#40;встречно-штыревых&amp;#41; структур при произвольных отношениях удельных поверхностных сопротивлений резистивной и проводящей пленок. В результирующем сопротивлении учтены сопротивления электродов гребенчатой структуры и объединяющих электродов, а также дополнительное сопротивление, связанное с переходом тока из проводящей пленки в резистивную и наоборот. Выявлены условия, при которых граница раздела пленок может считаться эквипотенциальной. Построена схема замещения низкоомных гребенчатых резисторов, используемых в качестве датчиков тока в схемах стабилизации, контроля, тепловой и токовой защиты.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>сопротивление низкоомного пленочного резистора с гребенчатой структурой</kwd><kwd>контактное сопротивление</kwd><kwd>схема замещения пленочного резистора</kwd></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Седаков А.Ю., Смолин В.К. Тонкопленочные элементы в микроэлектронике: осно-вы проектирования и изготовления.  М.: Радиотехника, 2011. – 168 с.</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Лугин А.Н. Конструкторско-технологические основы проектирования тонкопле-ночных прецизионных резисторов. – Пенза: ИИЦ ПензГУ, 2008. – 288 с.</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Колпаков А. Измерение тока в мощных импульсных преобразовательных устрой-ствах// Электронные компоненты. – 2004. – № 2. – С. 77–83.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Гельмутдинов А.Х., Ермолаев Ю.П. Модели оценки сопротивления пленочных контактов и резисторов с распределенными параметрами. – Казань: ЗАО «Новое знание», 2005. – 76 с.</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Спирин В.Г. Сопротивление электродов тонкопленочного резистора // Нано- и микросистемная техника. – 2008.– № 7. – С.19–24.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Лугин А.Н. Наноразмерные эффекты в тонкопленочном контакте // Петербургский журнал электроники. – 2012.– № 1. – С. 41–45.</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Садков В.Д., Еремеев Ю.В., Якимов Д.Ю. Методика расчета сопротивления прецизионного пленочного гантельного резистора // Изв. вузов. Электроника. – 2011. – № 3. – С. 44–49.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Садков В.Д., Еремеев Ю.В., Старанчук П.Н. Моделирование многослойного контакта прецизионного чип-резистора // Изв. вузов. Электроника. – 2014. – № 6 (110). – С. 14–21.</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Ямпурин Н.П., Широков Л.В., Садков В.Д. Современные вопросы радиоэлектро-ники с позиций теории аналитических функций. – Арзамас: АГПИ, 2014. – 209 с.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Крылов В.И. Приближенное вычисление интегралов. – М.: Наука, 1967. – 500 с.</mixed-citation></ref></ref-list>    
  </back>
</article>
