<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-id pub-id-type="risc">11642768</article-id><article-id pub-id-type="udk">621.382 323.001.57</article-id><article-categories><subj-group><subject>Краткие сообщения</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">C∞-Continuous Four-Parameters Compact Model of Field-Effect Transistor</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Четырехпараметрическая С∞-непрерывная компактная модель полевого транзистора</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Бирюков Вадим Николаевич </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Бирюков</surname><given-names>Вадим Николаевич </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Nikolaevich</surname><given-names>Biryukov Vadim</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Biryukov Vadim Nikolaevich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru">Технологический институт Южного федерального университета в г. Таганроге</aff></contrib-group><fpage>69</fpage><lpage>71</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/issues/4-_2008/chetyrekhparametricheskaya_s_nepreryvnaya_kompaktnaya_model_polevogo_tranzistora/</self-uri><self-uri content-type="pdf">http://ivuz-e.ru/download/4_2008_2802.pdf</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>A four-parameter static mathematical model of a field-effect transistor, continuous with all its derivatives, has been proposed. The specific feature of the model is the application of physical parameters effectively determined by the least-squares method.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Региональные &amp;#40;кусочные&amp;#41; модели полевого транзистора &amp;#40;ПТ&amp;#41; в силу разрыва высших производных на границе пологой и крутой областей БАХ не позволяют оценивать интермодуляционные искажения. Для их расчета разработан ряд моделей. В настоящей работе рассматривается статическая математическая модель ПТ в замкнутой форме &amp;#40;компактная модель&amp;#41;, непрерывная со всеми производными. Предложенная модель предназначена для оценки интермодуляционных искажений в радиотехнических цепях на ПТ. Модель не содержит новых параметров по сравнению с известными, имеет более низкую погрешность, чем трехпараметрическая модель и позволяет эффективно проводить идентификацию параметров методом наименьших квадратов.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd/></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Foty D.P. M0SFET modeling with SPICE: principles and practice. Prentice Hall РТR, NJ, 1997. - Р. 653.</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation xml:lang="ru">McAndrew С.С., Вhattacharyya В.К., Wang О.А. C∞-continuous depletion capacitance model // IEEE Trans. Computed-Aided Design. - 1993. - Vol. CAD-12, June. - Р. 825-828.</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Antognetti Р., Massobrio G. (Eds.) Semiconductor Device Modeling with SPICE. - New York: McGraw-Hill, 1987.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Гергель В.А., Марасанов А.В., Орешкин Г.И. Простая аналитическая модель короткоканального МОП-транзистора для численного моделирования схемотехнических задач // Микроэлектроника. - 1989. - Т. 18, вып. 2. - С. 162-165.</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Бирюков В.Н., Пилипенко А.М. Исследование трехпараметрической модели высокочастотного полевого транзистора // Изв. вузов. Электроника. - 2003. - № 6. - С. 22-26.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Бирюков В.Н. Анализ высоковольтного и охлаждаемого МДП-транзистора. Сб. XII Всесоюзная научная конференция по микроэлектронике. Тез. докладов. Ч. 1. Тбилиси, 1987. - С. 139-140.</mixed-citation></ref></ref-list>    
  </back>
</article>
