Имплементация памяти в систему на кристалле со встроенными средствами самотестирования и самовосстановления

Имплементация памяти в систему на кристалле со встроенными средствами самотестирования и самовосстановления

При производстве систем на кристалле с использованием современных технологий с высокой интеграцией элементов возникают проблемы тестирования и ремонта встроенной памяти. В работе предложена оригинальная архитектура отказоустойчивой полупроводниковой памяти с заданной кратностью выявления отказов. При этом резервируется не все устройство целиком, а только наиболее подверженные отказам элементы, что снижает его массу и стоимость. Выполнена верификация проекта отказоустойчивой памяти с автоматическим восстановлением работоспособности при четырехкратных отказах. Проект отказоустойчивой памяти имплементирован в микросхему M2S010-TQ144 системы на кристалле SF2-Junior-KIT в интегрированной среде разработки Microsemi Libero SoC v11.8. Предлагаемая архитектура отказоустойчивой памяти обеспечивает автоматическое восстановление работоспособности при многократных отказах элементов на борту системы управления космическим аппаратом с помощью устройства встроенного самовосстановления без применения плавких перемычек и участия обслуживающего персонала. В полупроводниковой памяти при обнаружении отказов выполняется автоматическая замена разрядов данных основного массива запоминающих ячеек, в которых произошли отказы, на данные, поступающие с выходов запасного массива запоминающих ячеек. Это повышает надежность при многократном выполнении циклов восстановления работоспособности.
Владимир Григорьевич Рябцев
Волгоградский государственный аграрный университет, г. Волгоград, Россия
Сергей Васильевич Волобуев
Волгоградский государственный аграрный университет, г. Волгоград, Россия
Поделиться