1. Никифоров А. Ю., Телец В. А., Бойченко Д. В. Требование радиационной стойкости – экзотика для гурманов или гарантия наличия и технического уровня результата разработки для всех категорий потребителей ЭКБ? // Международный форум «Микроэлектроника-2017»: сб. тезисов 3-й Междунар. науч. конф. (Республика Крым, г. Алушта, 02–07 окт. 2017 г.). М.: Техносфера, 2017. С. 32–36.
2. Hash G. L., Shaneyfelt M. R., Sexton F. W., Winokur P. S. Radiation hardness assurance categories for COTS technologies // 1997 IEEE Radiation Effects Data Workshop NSREC Snowmass 1997. Workshop Record Held in Conjunction with IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference. Snowmass, CO: IEEE, 1997. P. 35–40. https://doi.org/10.1109/REDW.1997.629794
3. Никифоров А. Ю., Телец В. А., Бойченко Д. В. Система оценки радиационной стойкости отечественных изделий электронной компонентной базы: гарантии и риски потребителей // Радиационная стойкость изделий ЭКБ / под ред. А. И. Чумакова. М.: НИЯУ МИФИ, 2015. С. 19–41.
4. Радиационно-ориентированная и СВЧ-характеризация техпроцессов контрактного производства ЭКБ ТСВЧЭ, используемых отечественными ДЦ: состояние, проблемы и ближайшие задачи / В. В. Елесин, Д. И. Сотсков, Н. А. Усачев и др. // Наноиндустрия. 2020. Т. 13. № S4 (99). С. 423–425. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.4s.423.425
5. Базовая технология проектирования широкой номенклатуры изделий СВЧ-диапазона вида «система на кристалле» и «система в корпусе», ориентированной на отечественные кремниевые и арсенид-галлиевые контрактные производства: достижения, проблемы и ближайшие задачи / В. В. Елесин, Н. А. Усачев, А. Ю. Никифоров и др. // Международный форум «Микроэлектроника-2019»: сб. тезисов 5-й Междунар. науч. конф. «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули» (Республика Крым, г. Алушта, 30 сент. – 05 окт. 2019 г.). М.: Техносфера, 2019. С. 28–31.
6. Displacement damage effects mitigation approach for heterojunction bipolar transistor frequency synthesizers / D. I. Sotskov, V. V. Elesin, A. G. Kuznetsov et al. // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020. Vol. 67. No. 11. P. 2396–2404. https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3015560
7. Compact models for radiation hardening by design of SiGe BiCMOS, GaAs and SOI CMOS microwave circuits / D. I. Sotskov, N. A. Usachev, V. V. Elesin et al. // 2021 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON). Kazan: IEEE, 2021. P. 1–5. https://doi.org/10.1109/SIBCON50419.2021.9438867
8. Елесин В. В., Сотсков Д. И., Усачев Н. А., Кузнецов А. Г. Особенности создания и применения радиационно-ориентированных моделей при проектировании отказоустойчивых изделий СВЧ-диапазона класса «система на кристалле» и «система в корпусе» на основе кремния, кремний-германия и арсенида галлия // Наноиндустрия. 2020. Т. 13. № S4 (99). С. 339–341. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.4s.339.341
9. Moskovskaya Yu. Рrediction analysis of the of ICs’ radiation hardness considering stability of technological processes // The proceedings of 20th All-Russian Scientific and Technical Conference “Radiation Resistance of Electronic Systems” (Lytkarino, June 6–7, 2017). Lytkarino: NIIP, 2017. P. 206‒207.
10. Московская Ю. Общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе // Наноиндустрия. 2017. № 1 (71). С. 50–59. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2017.71.1.50.5
11. Московская Ю. М. Контроль радиационной стойкости изделий микроэлектроники в процессе серийного производства: варианты и критерии выбора оптимального методического подхода // Наноиндустрия. 2019. Спецвыпуск. С. 197–201. https://doi.org/10.22184/NanoRus.2019.12.89.197.201
12. Состав и принцип формирования типовой оценочной схемы как имитатора БМК и полузаказных БИС на их основе для задач радиационных испытаний / Ю. Московская, Р. Федоров, А. Денисов и др. // Наноиндустрия. 2017. № 1 (71). С. 60–69. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2017.71.1.60.69
13. Awipi M., Drews S. A non-destructive method of testing for radiation hardness of integrated circuits // Proceedings of the IEEE SoutheastCon 2000. ‘Preparing for The New Millennium’ (Cat. No. 00CH37105). Nashville, TN: IEEE, 2000. P. 349–354. https://doi.org/10.1109/SECON.2000.845591
14. Strategies for lot acceptance testing using CMOS transistors and ICs / J. R. Schwank, F. W. Sexton, D. M. Fleetwood et al. // IEEE Transactions on Nuclear Science. 1989. Vol. 36. No. 6. P. 1971–1980. https://doi.org/10.1109/23.45394