Методы повышения точности моделирования задержек и пиковых токов комбинационных КМОП-схем на логическом уровне проектирования

Методы повышения точности моделирования задержек и пиковых токов комбинационных КМОП-схем на логическом уровне проектирования

Раздел находится в стадии актуализации

С уменьшением технологических размеров транзисторов становится существенным влияние вариаций схемных и технологических параметров на значения задержек элементов комбинационных КМОП-схем. Из-за разброса значений этих параметров появляется неопределенность задержек, что приводит к необходимости определения интервалов возможных значений задержки. Другим фактором, влияющим на процесс проектирования КМОП-схем при переходе к нанометровым технологиям, становится пиковый ток, возникающий в шинах питания при переключении входов вентилей. Значение пикового тока используется для оценки падения напряжения в шинах питания, которая, в свою очередь, необходима для расчета ширины шин питания КМОП-схем и отключающих транзисторов в методе снижения статической мощности. Методы полного схемотехнического моделирования не дают полноты анализа для схем с большим числом входов, а методы на логическом уровне проектирования КМОП-схем не обеспечивают требуемой точности оценки значений задержек и пикового тока в схеме. Рассмотрена задача повышения степени точности и достоверности анализа быстродействия и пиковых токов комбинационных КМОП-схем с учетом одновременного переключения входов, а также результатов анализа логических корреляций сигналов. Предлагаемый метод основан на использовании кубической аппроксимации коррекционной разницы задержек с учетом одновременного переключения входов. Показано, что разработанные методы анализа быстродействия и пиковых токов комбинационных КМОП-схем обеспечивают повышение точности верхних оценок анализируемых параметров до 3 % по сравнению с точным моделированием и позволяют снизить пессимистичность верхней оценки в 2-3 раза по сравнению с оценкой наихудшего случая. Разработанные методы повышения точности моделирования задержек и пиковых токов комбинационных КМОП-схем могут быть использованы как дополнение к уже существующим средствам САПР СБИС для анализа помехоустойчивости, анализа пиковых токов, характеризации сложно-функциональных блоков, а также в целях повышения точности классического статического анализа. Для повышения точности интервальных оценок минимальных задержек и максимального пикового тока разработаны методы моделирования с учетом одновременного переключения входов логического элемента. По отношению к схемотехническому моделированию погрешность данных методов не превышает 3 %. По сравнению с результатами, полученными без учета одновременного переключения, уменьшение минимальной задержки достигает 50 %, а пессимистичность оценки пикового тока комбинационных схем уменьшается в среднем на 50-55 %.
Иванова Галина Александровна
Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук, г. Москва, Россия
Рыжова Дарья Игоревна
Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук, г. Москва, Россия; Национальный исследовательский университет «МИЭТ», г. Москва, Россия

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru