1561-5405 10.24151/1561-5405 Proceedings of Universities. Electronics Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics" Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника» 1561-5405 2587-9960 National Research University of Electronic Technology Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" 004.337, 004.052.42System on Chip Instrumentation for Emulated Memory Fault InjectionОснащение систем на кристалле средствами эмуляции сбоев в памятиМамутова Ольга Вячеславовна МамутоваОльга Вячеславовна VyacheslavovnaMamutova OlgaMamutova Olga VyacheslavovnaНенашев Олег Вячеславович НенашевОлег Вячеславович VyacheslavovichNenashev OlegNenashev Oleg VyacheslavovichФилиппов Алексей Семенович ФилипповАлексей Семенович SemenovichFilippov AlekseyFilippov Aleksey SemenovichСанкт-Петербургский государственный политехнический университет5057http://ivuz-e.ru/issues/1-_2015/osnashchenie_sistem_na_kristalle_sredstvami_emulyatsii_sboev_v_pamyati/http://ivuz-e.ru/download/1_2015_2004.pdf

The emulation of fault injection at the prototyping stage for Systems-on- Chip (SoC) is an efficient method for evaluating the system reaction to SEU effects. A new method of the automated SoC instrumentation for emuleted fault injection into embedded memory blocks has been presented. This approach has been successfully tested for the system with the OpenRISC1200 processor and has demonstrated the low hardware and engineering time overheads.

Представлен новый метод автоматизированного оснащения системы на кристалле агентами внесения неисправностей типа «одиночный сбой» для блоков встроенной памяти. Метод основан на использовании гибридных моделей устройств и может быть применен на этапе прототипирования для любых маршрутов проектирования и форматов исходных описаний. Тестирование на системе с процессором OpenRISC1200 показало высокое быстродействие и существенную экономию накладных расходов на дополнительные аппаратные ресурсы кристалла при использовании данного метода.

автоматизация проектированиявстроенная памятьвнесение неисправностейреинжинирингодиночный сбой Максименко С.Л., Мелехин В.Ф., Филиппов А.С. Анализ проблемы построения радиационно-стойких информационно-управляющих систем // Информационно-управляющие системы. – 2012. – № 2. – С. 18–25.Fault injection and dependability evaluation of fault-tolerant systems / J. Arlat et al. // IEEE Transactions on Computers. – 1993. – Vol. 42. – P.913–923.Benso A., DiCarlo S. The art of fault injection // J. of Control Engineering and Applied Informatics. – 2011. – Vol. 13. – P.9–18.A new approach to accelerate SEU sensitivity evaluation in circuits with embedded mem-ories / M. Portela-Garcia et al. // Proc. SPIE VLSI Circuits and Systems IV. – 2009. – Vol. 7363.Мамутова О.В. Использование встроенного процессора для управления эмуляци-ей внесения неисправностей типа «сбой» в блоки памяти // Университетский научный журнал. – 2013. – Вып. 5. – С. 185–193.Kenney J. Using a processor-driven test bench for functional verification of embedded SoCs // All configurable systems development articles. – Oct. – 2006.Microprocessor software-based self-testing / M. Psarakis et al. // Design & Test of Com-puters. – 2010. – Vol. 27. – P. 4–19.Dutton B.F., Ali M., Stroud C.E., Sunwoo J. Embedded processor based fault injection and SEU emulation for FPGAs // Proc. Embedded Systems and Applications. – 2009. – P. 183–189.Ненашев О.В. Расширяемый инструментарий для автоматизации реинжиниринга цифровых систем на кристалле // Университетский научный журнал. – 2013. – Вып. 5. – С. 194–203.