<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-categories><subj-group><subject>Материалы электронной техники</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Archives</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>2-</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Кулеманов Иван Васильевич </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Кулеманов</surname><given-names>Иван Васильевич </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Vasilevich</surname><given-names>Kulemanov Ivan</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Kulemanov Ivan Vasilevich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Кулеманов Иван Васильевич </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Кулеманов</surname><given-names>Иван Васильевич </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Vasilevich</surname><given-names>Kulemanov Ivan</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Kulemanov Ivan Vasilevich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru"/></contrib-group><fpage>15</fpage><lpage>20</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/en/issues/94-_2012/2/</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>The electrical conductivity of TiO layers doped at high concentration vanadium has been carried out as a function of temperature 77-300 K. The layers have been grown by the RF-magnetron sputtering on matched LaAlO substrates. It has been shown that in case of the V-doping the 3D variable range hopping (VRH) conductivity by the Mott law is observed. The hopping conductivity parameters: average hopping energy, hopping distance and density of states at the Fermi level have been calculated.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Проведены измерения электрической проводимости слоев TiO, легированного в высоких концентрациях ванадием, как функции от температуры в интервале 77-300 К. Показано, что для тонких эпитаксиальных слоев в случае легирования ванадием наблюдается 3D-проводимость с переменной длиной прыжка по закону Мотта. Проведен расчет параметров проводимости: средней энергии и длины прыжка, плотности состояний вблизи уровня Ферми.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd/></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list/>    
  </back>
</article>
