Specific features of the designed characteristic tracer have been considered. The method of the semiconductor component characteristic visualization has been described. Feasible implementation circuits of different blocks of the characteristic tracer have been presented. Some additional characteristic tracer functions provided by the special digital circuit have been offered.
Рассмотрены особенности построения многофункционального характериографа для экспресс-анализа радиоэлектронной аппаратуры. Описан принцип визуализации характеристик исследуемых компонентов электронных схем. Представлены возможные схемы реализации отдельных узлов характериографа. Предложен вариант расширения функциональных возможностей характериографа за счет использования цифровой схемы обработки.