<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-categories/><title-group><article-title xml:lang="en">Archives</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Уменьшение влияния температурного дрейфа 
в сканирующих зондовых микроскопах</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Быков Виктор Александрович </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Быков</surname><given-names>Виктор Александрович </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Aleksandrovich</surname><given-names>Bykov Viktor</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Bykov Viktor Aleksandrovich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Быков Виктор Александрович </string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Быков</surname><given-names>Виктор Александрович </given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Aleksandrovich</surname><given-names>Bykov Viktor</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Bykov Viktor Aleksandrovich</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru"/></contrib-group><fpage>58</fpage><lpage>63</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/en/issues/85-_2010/umenshenie_vliyaniya_temperaturnogo_dreyfa_v_skaniruyushchikh_zondovykh_mikroskopakh/</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>Some features of the thermal stabilization for the scanning probe microscopy devices have been studied. The universal microcontroller with the internal thermal stabilization has been developed. The device provides an improved accuracy of the temperature control during measurements.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Исследованы особенности термостабилизации устройств сканирующей зондовой микроскопии. Разработан универсальный термоконтроллер с внутренней термостабилизацией, обеспечивающий  повышенную точность поддержания температуры в процессе измерений.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd/></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list/>    
  </back>
</article>
