<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-id pub-id-type="doi">10.24151/1561-5405-2018-23-4-353-361</article-id><article-id pub-id-type="udk">621.396.6</article-id><article-categories><subj-group><subject>Элементы интегральной электроники</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Failure Model of Electronic Components for Simulation</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Модель отказов электронных компонентов для расчета надежности</trans-title></trans-title-group></title-group><fpage>353</fpage><lpage>361</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/en/issues/4-_2018/model_otkazov_elektronnykh_komponentov_dlya_rascheta_nadezhnosti/</self-uri><self-uri content-type="pdf">http://ivuz-e.ru/en/download/4_2018_2233_en.pdf</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>The standard procedures used in the engineering practice for the dependability prediction of electronic equipment (analytical methods) have a number of significant limitations. Turning to numerical methods, allowing the removal of these limitations, causes the necessity to create the failure model of electronic components for the dependability prediction of electronic components. The aim of the present research is to improve the design work quality by improving the dependability prediction of electronic equipment, taking into account the reliability, durability and storability of electronic components. To develop the failure model, the methods of the dependability theory, the probability theory and computational mathematics have been developed. A failure model of electronic components, representing the functional, linking the implementation of the running time and the base random variable, has been created. In this case, the model parameters have been calculated on the basis of the data on dependability characteristics of their dependencies on the modes and conditions for using the electronic components, as shown on a specific example. Unlike the standardized failure model of electronic components, the proposed model permits simultaneously to take into account the limitations, imposed by the characteristics of reliability, durability and storability, normalized in the Data Sheet.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Применяемые в инженерной практике типовые процедуры расчетной оценки характеристик надежности электронных компонентов &amp;#40;аналитичес-кие методы&amp;#41; имеют ряд существенных ограничений. Переход к численным методам, позволяющим снять эти ограничения, вызывает необходимость создания модели отказов электронных компонентов для расчета показателей надежности электронных средств методом имитационного моделирования. В работе исследована типовая процедура расчетной оценки характеристик надежности электронных компонентов с помощью методов, моделей и алгоритмов, применяемых для анализа проектного уровня надежности электронных средств методом Монте-Карло. Для повышения качества проектных работ усовершенствован метод расчета надежности электронных средств, учитывающий характеристики безотказности, долговечности и сохраняемости электронных компонентов. Для разработки модели использованы методы теории надежности, теории вероятностей и вычислительной математики. Созданная модель отказов электронных компонентов представляет собой функционал, связывающий реализацию наработки и базовой случайной величины. При этом параметры модели рассчитаны на основе данных о характеристиках надежности их зависимостей от режимов и условий применения электронных компонентов, что показано на конкретном примере. В отличие от стандартизованных моделей отказов электронных компонентов предлагаемая модель позволяет одновременно учитывать ограничения, налагаемые нормированными в технической документации характеристиками безотказности, долговечности и сохраняемости.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd/></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 27.002-2015. Межгосударственный стандарт. Надежность в технике. Термины и определения. – М.: Стандартинформ, 2016. – IV, 23 с.</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation xml:lang="ru">ОСТ 4Г 0.012.242-84. Отраслевой стандарт. Аппаратура радиоэлектронная. Методика расчета показателей надежности. – М.: ВНИИ, 1985. – 49 с.</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation xml:lang="ru">ОСТ 4.012.013-84. Отраслевой стандарт. Аппаратура радиоэлектронная. Оп-ределение показателей долговечности. – М.: ВНИИ, 1985. – 14 с.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation xml:lang="ru">ОСТ В 4Г 012.241-84. Отраслевой стандарт. Аппаратура радиоэлектронная. Методы расчета показателей надежности в режимах хранения и ожидания и опре-деления продолжительности испытаний, имитирующих длительное хранение. – М.: ВНИИ, 1985. – 45 с.</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 27.005-97. Межгосударственный стандарт. Надежность в технике. Мо-дели отказов. Основные положения. – Минск: БелГИСС, 2005. – III, 44 с.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Буторин В.А., Вовденко К.П. Детерминированная математическая модель надежности светодиодных светильников // Достижения науки и техники АПК. – 2013. – № 5. – С. 76–78.</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Седых К.В., Громов В.С. Подсистема АСОНИКА-К. Ч. 1 // Проблемы совре-менной науки и образования. – 2016. – № 35 (77). – С. 20–22.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 27.301-95. Межгосударственный стандарт. Надежность в технике. Рас-чет надежности. Основные положения. – М.: ИПК Изд-во стандартов, 1996. – III, 15 с.</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Надежность ЭРИ: справочник. – М.: МО РФ, 2006. – 641 с.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Гончаров В.А. Методы оптимизации: учеб. пособие. – М.: МИЭТ, 2008. – 188 с.</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>11.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Жаднов В.В. Расчет надежности электронных модулей. – М.: Солон-Пресс, 2016. – 232 с.</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>12.</label><mixed-citation xml:lang="ru">ЩЫ3.365.007 ЭТ. Транзисторы типов 2Т203А9, 2Т203Б9, 2Т203В9, 2Т203Г9, 2Т203Д9, 2Т203Е9. Этикетка. – Тула: ООО «Радио-Комплект», 2014. – URL: http://www.radio-komplekt.ru/im/labels/2%F23130%E39%2C2%F23130%E49%2C2%F23130%E59.pdf (дата обращения: 20.12.2017).</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>13.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Оценка уточненного ресурса оптических кабелей с учетом условий эксплуа-тации / В.В. Жаднов, И.А. Иванов, П.С. Королев и др. // Известия вузов. Электро-ника. – 2016. – Т. 21. – № 6. – C. 589–592.</mixed-citation></ref></ref-list>    
  </back>
</article>
